美国Lumetrics研发的高精度非接触式测厚仪,采用白光干涉原理,可快速测量12μm-80mm 透光材料的厚度,精度为0.1μm,测单层和多层厚度(20层),可选多探头配置,内部自校准, NIST追溯。更多详情咨询北京昊然伟业光电科技有限公司!
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