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晶圆二氧化硅薄膜在线测量：优可测膜厚仪Mapping系列

优可测薄膜厚度测量仪AF Mapping系列： Mapping系列可预设测量程序，自动进行多点测量；单点测量速度＜0.5s；测量过程中会自动计算最优路径；内置氘灯＋钨卤素灯，波长范围180nm-2400nm；兼容2-12寸的晶圆，可支持客制化。

2023-12-13 播放:4550

类型：视频新闻行业：仪器仪表

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