美国Hinds Instruments的双折射测量技术已经被行业采用，以高精度、分辨率和重复性测量表征材料中的应力双折射。应力仪能够在0．001nm分辨率下测量光阻，最低噪声为0．005nm， 这些系统是强大的、动态的和可扩展的，可以满足您的的应用需求。我们提供跨光谱（DUV， VIS和NIR）的应力仪， 并能够测量几乎所有的光学材料。
应用
质量控制计量
低水平双折射测量的有
平滑玻璃
科学光学元件
激光晶体
DVDs
光刻组件的质量验证，包括
光掩模
熔石英光学元件
氟化钙镜片毛坯和窗口
主要特点
在低水平双折射测量中具有高灵敏度
同时测量双折射幅度和角度
精确度可重复性
高速测量
光学系统中无移动部件
可变尺寸光学元件的自动映
光弹调制器技术
简单、便于用户使用的操作
