公司自主研发PCI弱吸收－共光路干涉弱吸收测量仪，PCI弱吸收测量精度高，单次测量可实现体和面吸收分开，测量速度快并可实现面扫描，可测量不同入射角的膜吸收。
特点
精度高：1 ppm
一次测量可以区分体、面吸收
扫描速度快（几分钟）
对样品规格要求不高
操作方便、简单
应用
光学薄膜
光学晶体材料
光学镜片
性能
测量晶体（LBO、YVO4、KTP...）或光学产品（K9、BK7、UVFS...）内部材料的弱吸收（体吸收）
测量晶体或光学产品的表面吸收或薄膜吸收
公司自主研发PCI弱吸收－共光路干涉弱吸收测量仪，PCI弱吸收测量精度高，单次测量可实现体和面吸收分开，测量速度快并可实现面扫描，可测量不同入射角的膜吸收。
特点
精度高：1 ppm
一次测量可以区分体、面吸收
扫描速度快（几分钟）
对样品规格要求不高
操作方便、简单
应用
光学薄膜
光学晶体材料
光学镜片
性能
测量晶体（LBO、YVO4、KTP...）或光学产品（K9、BK7、UVFS...）内部材料的弱吸收（体吸收）
测量晶体或光学产品的表面吸收或薄膜吸收
