各类光分路器、连接器、芯片、光模块等光通讯器件的回损值常用标准的光功率计法进行测量，分别测量稳定光源发射光功率及接入待测件后的光功率，将其比值作为回损值。该方法属于一种整体测试，测量的是整个器件的回损总和。这种测试方式简单方便，成本低。
OFDR技术是连续的分布式回损测量，准确定位光学链路上各位置的回损，也可以获得任意长度的积分回损。在一些小尺寸器件或复杂链路的测试场景中，借助ＯＦＤＲ技术分布式测量，可以进行回损评估、故障分析与定位，非常有效。
图1 光纤链路图
图2部分平面波导光延时线回损
各类光分路器、连接器、芯片、光模块等光通讯器件的回损值常用标准的光功率计法进行测量，分别测量稳定光源发射光功率及接入待测件后的光功率，将其比值作为回损值。该方法属于一种整体测试，测量的是整个器件的回损总和。这种测试方式简单方便，成本低。
OFDR技术是连续的分布式回损测量，准确定位光学链路上各位置的回损，也可以获得任意长度的积分回损。在一些小尺寸器件或复杂链路的测试场景中，借助ＯＦＤＲ技术分布式测量，可以进行回损评估、故障分析与定位，非常有效。
图1 光纤链路图
图2部分平面波导光延时线回损
